產(chǎn)品列表 / products

內置電池專用測試程序，操作便捷；防爆結構設計適配電池測試場景。內置電池專用測試程序，快速溫變高低溫測試箱半導體

型號：TEB-600PF

瀏覽量：406

更新時間：2025-08-26

價格：35000

詳細介紹

品牌	廣皓天	產(chǎn)地	國產(chǎn)
解析精度	溫度：0.01℃ 濕度：0.1%RH	升溫時間	士1.0°C(-20-+100°C)±1.5°C(+100.1~+150°C)士
溫度波動范圍	士0,3'C(-20~+100'C)±0.5C(+100.1~+150C)+2.5%RH	外殼材料	SUS304不銹鋼

生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優(yōu)秀產(chǎn)品。

快速溫變高低溫測試箱半導體

半導體測試核心用途

專為半導體器件測試設計，可模擬芯片、晶圓、封裝模組在溫濕度驟變下的性能。用途包括：-50℃極寒環(huán)境芯片啟動測試、125℃高溫下半導體材料穩(wěn)定性驗證、30%~90% RH 濕度交變下的封裝密封性試驗，適配 CMOS、MCU 等各類半導體器件，為其可靠性篩選提供數(shù)據(jù)支撐。

快速溫變高低溫測試箱半導體

快速溫變高低溫測試箱半導體

技術參數(shù)

溫度范圍：-60℃~180℃，半導體測試檔 - 40℃~125℃；溫變速率：3~25℃/min（可調，-40℃升至 100℃僅需 5.6 分鐘）；濕度范圍：10% RH~98% RH，核心區(qū)間波動度 ±1.5% RH；溫度波動度 ±0.3℃，均勻度 ±0.8℃；工作室容積：30~300L（適配晶圓盒與芯片托盤）；電源：AC380V±10%，50Hz，功率 6~15kW。

加濕系統(tǒng)（半導體專用）

采用超純凈超聲波加濕，配備 0.1μm 級過濾器，加濕水質電阻率≥18MΩ?cm，避免離子污染半導體表面。加濕量 0.1~2kg/h 可調，低濕區(qū)采用電解除濕技術，可穩(wěn)定維持 10% RH±1% RH，滿足晶圓低濕存儲測試需求。加濕模塊與溫控系統(tǒng)聯(lián)動，避免溫變時出現(xiàn)凝露，保護精密半導體器件。

快速溫變高低溫測試箱半導體

工作原理

隔熱工作室構建封閉測試環(huán)境，加熱系統(tǒng)（碳纖維加熱管）與復疊式制冷系統(tǒng)協(xié)同運作，按預設溫變曲線調節(jié)功率。加濕 / 除濕系統(tǒng)精準控濕，循環(huán)風機經(jīng) HEPA 過濾器帶動氣流形成層流（風速 02~0.5m/s），確保溫濕度均勻。測試中實時監(jiān)測半導體器件電參數(shù)，同步記錄溫濕度與性能關聯(lián)數(shù)據(jù)。

快速溫變高低溫測試箱半導體

產(chǎn)品性能

15℃/min 溫變速率下，箱內溫度波動≤±0.3℃，連續(xù) 500 小時運行數(shù)據(jù)偏差≤0.5℃。支持 “溫變 + 濕度" 復合測試，半導體測試中數(shù)據(jù)重復性誤差≤1.5%。配備防靜電內膽（表面電阻 10?~101?Ω），內置顆粒計數(shù)器接口，箱內≥0.5μm 顆粒濃度≤100 個 /ft3。

快速溫變高低溫測試箱半導體