| 品牌 | 廣皓天 | 產地 | 國產 |
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| 升溫時間 | 士1.0°C(-20-+100°C)±1.5°C(+100.1~+150°C)士 | 溫度波動范圍 | 士0,3'C(-20~+100'C)±0.5*C(+100.1~+150*C)+2.5%RH |
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| 溫度范圍 | -70°C~+150°C | 外形尺寸 | 115x185x218 |
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| 制冷方式 | 機械式雙級壓縮制冷方式(氣冷冷凝器或水冷換熱器) | | |
生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產研發(fā)技術,一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商,皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優(yōu)秀產品。
快溫變高低溫實驗箱,半導體芯片應力測試
一、半導體芯片應力測試用途
該設備專為半導體芯片、芯片封裝、IC模塊、晶圓等產品的溫度應力測試設計,通過模擬快速溫變、高低溫環(huán)境,施加溫度應力,驗證芯片在高低溫循環(huán)、劇烈溫變過程中的機械穩(wěn)定性、電氣性能可靠性,提前暴露芯片封裝開裂、焊點脫落、芯片失效、性能漂移等隱患,適配芯片研發(fā)、生產、質檢全流程,滿足半導體行業(yè)相關測試標準,為芯片質量管控提供核心數據支撐。
快溫變高低溫實驗箱,半導體芯片應力測試
二、技術參數
溫度范圍:-70℃~+150℃(可定制-80℃~+200℃,適配高功率芯片測試);溫變速率:5℃/min、10℃/min、15℃/min線性可調(空載),負載狀態(tài)下穩(wěn)定保持≥5℃/min;溫度均勻度:≤±2℃(芯片測試區(qū)域精準控溫);溫度波動度:≤±0.5℃;內箱容積:50L~408L(可定制小型專用腔體,適配芯片小批量測試);升溫時間:常溫→+150℃約25min,降溫時間:常溫→-70℃約50min;電源:AC380V 3P 50Hz;安全標準:符合GB/T 2423.1/2/22、JEDEC半導體測試標準;控制精度:溫度分辨率0.01℃,程序控制誤差≤±0.3℃。
三、產品結構
1. 箱體結構:外殼采用冷軋鋼板靜電噴塑,耐腐蝕、抗干擾;內膽為SUS304不銹鋼,光滑易清潔,無雜質污染,適配芯片潔凈測試需求;高密度聚氨酯保溫層,有效鎖溫,減少能耗,避免箱內溫度波動。2. 測試腔體:定制小型測試托盤,可固定芯片、晶圓,防止測試過程中位移;預留標準測試接口,方便連接芯片測試儀器,實現溫變與電氣性能同步檢測。3. 送風系統:頂部強對流循環(huán)風道,搭配低噪音風機,確保箱內溫場均勻,無局部溫差,避免芯片局部應力不均。4. 安全結構:獨立電氣控制柜,布線規(guī)范,防電磁干擾(適配芯片精密測試);配備門開報警、超溫保護、漏電保護、壓縮機過載保護,保障設備與芯片安全。5. 操作結構:嵌入式7英寸觸摸屏,操作面板簡潔,可快速設置測試參數,適配實驗室高效測試需求。
四、溫度控制系統
采用工業(yè)級高精度溫度控制器,中文操作界面,簡單易上手;支持程序控制與定值控制雙模式,可編輯120組測試程序,每組99段溫變曲線,支持循環(huán)測試、階梯溫變,適配芯片不同應力測試場景;搭載PT100鉑金電阻傳感器,采樣響應迅速,精準捕捉溫度變化,反饋具備PID智能調節(jié)算法,自動匹配加熱、制冷功率,實現快速溫變與精準控溫,避免溫度過沖損傷芯片;支持數據實時顯示、存儲、USB導出,可追溯測試全過程數據,滿足芯片測試溯源要求;內置超溫、傳感器故障報警功能,及時止損,保護芯片與設備。
五、制冷系統
采用二元復疊式制冷系統,搭配品牌壓縮機,制冷強勁、運行穩(wěn)定,噪音低,適配實驗室安靜環(huán)境;使用環(huán)保制冷劑(R404A+R23),無環(huán)境污染,且降溫速率穩(wěn)定,可快速達到深低溫環(huán)境,滿足芯片低溫應力測試需求;核心部件(冷凝器、干燥過濾器、電子膨脹閥)均采用優(yōu)質品牌產品,抗老化、故障率低,延長設備使用壽命;具備壓縮機延時啟動、高低壓保護、過熱保護功能,避免制冷系統損壞;支持風冷/水冷兩種散熱方式,可根據實驗室安裝環(huán)境靈活選擇,確保制冷系統長期穩(wěn)定運行。 六、應用領域
核心應用于半導體行業(yè),涵蓋:半導體芯片(邏輯芯片、功率芯片、存儲芯片)、芯片封裝件、IC模塊、晶圓、半導體傳感器、車載芯片、工業(yè)芯片等產品的溫度應力測試;同時適配科研機構、半導體研發(fā)企業(yè)、芯片生產廠家、第三方檢測機構,用于芯片研發(fā)階段的性能驗證、生產過程的質量管控、出廠前的合格檢測,以及芯片可靠性老化測試,助力企業(yè)提升芯片產品質量與穩(wěn)定性。



